熱阻測試儀可以測試Rja，Rjc，Rjb Rjl 的熱阻(測試原理符合JEDEC51-1 定義的動態及靜態測試方法) 并且每一個拐點都表明熱進入了一個新的層次。每個層次的數據將表明這個器件不同層向外散熱的好壞，對不同廠家同類產品而言，可以讓我們選擇熱阻值非常好的廠家;同時它也可以檢測同一廠家，同類產品，不同批次質量的差異，從而評測出該廠家生產工藝的穩定性。
下面讓我們一起來了解一下熱阻測試儀的功能有哪些吧
1) 瞬態阻抗(Thermal Impedance)測試，可以得到從開始加熱到結溫達到穩定這一過程中的瞬態阻抗數據。見上圖
2) 穩態熱阻(Thermal Resistance)各項參數的測試，其包括：Rja,Rjb,Rjc,Rjl, 當器件在給一定的工作電流后。熱量不斷地向外擴散，后達到了熱平衡，這時得到的結果是穩態熱阻值。在沒有達到熱平衡之前測試到的是熱阻抗。 可以得到用不同占空比方波測試時的阻抗與熱阻值。
3) 內部封裝結構與其散熱能力的相關性分析(Structure Function)，可以通過將類似的圖一轉換成下面所示的曲線分析圖(熱容與熱阻關系圖)，這樣更能體現不同結構下熱阻，以 LED 為例從圖中可以看出LED 器件散熱能力的瓶頸所在，對LED封裝工藝的改進和封裝材料的選擇有很大幫助。下圖為兩種不同封裝結構的 LED 樣品的分析圖。
不只 LED 器件可以得到這個分析圖，而且其他的器件也可以得到這個圖。并且也可以得到這種分析。從圖中可以看出黑色曲線的 LED熱阻低于綠色曲線的 LED熱阻，這也從客戶那里得到確認，黑色曲線的 LED在芯片粘接與散熱方面的工藝得到很大改進。
5) 裝片質量的分析(Die Attachment Quality Evaluation).
主要測試器件的粘接處的熱阻抗值，如果有粘接層有氣孔，那么傳熱就要受阻，這樣將導致芯片的溫度上升，因此這個功能能夠衡量粘接工藝的穩定性。
6.多晶片器件的測試。
以兩個晶片為例：先給其中的晶片 1加電使其節溫升高然后測試出熱阻 R11 和功率Q1 同時給另一晶片 2供感應電流然后測出感應熱阻 R21.再給晶片 2加電使其節溫升高然后測試出熱阻R22節溫和功率 Q2, 同時給另一晶片 1供感應電流然后測出感應熱阻 R12。 根據熱阻的定義
